ULVAC爱发科 热分析评价系统 激光热膨胀计 LIX-2M

2024-11-06

金山科研平台现货促销

ULVAC爱发科 热分析评价系统 激光热膨胀计 LIX-2M

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最小分辨率2nm的超精密热膨胀测定。可以测量低热膨胀材料和各种电子部件的精密膨胀。同时,也可以对应薄膜的厚度方向的膨胀测量。金山科研平台现货促销特点

可以测量50至500μm厚的聚合物膜材料的厚度方向

专利和标准

JISR3251-1995标准平移式样品架(专利)

金山科研平台现货促销用途

有机薄膜的厚度膨胀测量

低膨胀玻璃的高精度膨胀测量

封装材料的膨胀测量

金山科研平台现货促销规格ModelTemperature rangeSample sizeAtmosphereMeasurement method
LIX-2MLIX-2L
RT ~ 700℃-150 ~ 200℃
Φ5 ~ 6 × L10 ~ 15 (mm) Both sides in the length direction are finished spherically.
1. Vacuum 2. Low pressure high purity helium gas
Dual path Michelson laser interferometry

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