金山科研平台现货促销

ULVAC爱发科 厚度方向热电特性评价装置 ZEM-5LT

ULVAC爱发科 厚度方向热电特性评价装置 ZEM-5LT

本系列对应各种热电材料的特性及薄膜等特殊规格。针对各种材料的特点，比如高温、高电阻、薄膜等，是能满足各种需求的热电特性评价装置。

金山科研平台现货促销用途

半导体，陶瓷和金属等多种材料的热电特性评估

金山科研平台现货促销特点

适用于各种热电材料和薄膜等特殊规格

温度检测传感器采用C型热电偶，非常适合评估Si基热电材料（SiGe，MgSi等）（HT型）

标准配备V / I图，用于欧姆接触的自我诊断

可以测量高达1200℃（HT型）

支持高达10MΩ的高电阻（HR型）

能够测量沉积在基板上的材料（TF型）

‐温度控制可以在150℃至200℃之间（LT型）

专利和标准

热电JIS R 1650-1

抵抗力JIS R 1650-2

金山科研平台现货促销规格ModelZEM-5HTZEM-5HRZEM-5LTZEM-5TFFeaturesTemperature RangeSample SizeThermocoupleMeasurement accuracy

High temperature	High resistance	Low and middle temperature	Thin film
100℃～1200℃	100℃～800℃	-150℃～200℃	50℃～500℃
2 to 4 mm square or Φ2 to 4 mm x 3 to 15 mm length			Deposited substrate:2 to 4 mmwidth x 0.4 to 1.2 mmthickness mm x 20 mm lengthThin film thickness: nm scale or thicker*An insulation layer is required between the sample film and the substrate
C	R	K	R
Seebeck coefficient: ±7%Electric resistivity: ±7% (less than 5mm long sample is not eligible.)

Constitution

Sample measurement, control and measurement assy. 1 set

Data acquisition. 1 set

Atmosphere controller. 1 set

Utility(HT type)PowerCooling waterAtmosphere gasSpace requirement

Main body AC200V, 40A 1 locationPC AC100V, 10A 2 locations

Water pressure 0.15 MPa Flow rate 5L/min

Low pressure He gas 0.2 MPa (Low pressure and static atmosphere)

Approx.750mmW × 900mmD (Installed on table)

Seebeck coefficient calculation method

Seebeck coefficient measurement shall be done by changing 3 temperature gradients and dividing dark electromotive force.

Setting and measurement screen

Temperature setting screen

V/I plot screen