ULVAC爱发科 分光椭偏仪 UNECSーPortable 薄膜膜厚/折射率测量用

2024-11-06

金山科研平台现货促销

ULVAC爱发科 分光椭偏仪 UNECSーPortable 薄膜膜厚/折射率测量用

ULVAC爱发科 分光椭偏仪 UNECSーPortable 薄膜膜厚/折射率测量用

UNECS系列是可以高速、高精度测量薄膜膜厚和折射率的分光椭偏仪。采用独特的测量方式,实现了高速测量和机体的小型化。我们的产品阵容包括独特的便携式,自动式和对应真空环境的设备内置式类型。UNECS-Portable,测量部的重量只有2.2kg重量轻且紧凑,是易于携带的便携式类型。可用于真空设备现场验收试验,可以通过分离样品台直接放在样品上进行大尺寸样品的测量。金山科研平台现货促销特点

高速測定:独特的快照方法可实现高达20 ms的高速测量。

适用于可见光谱:波长范围可选标准类型(530nm至750nm)和可见光谱类型(380nm至760nm)。

紧凑型传感器单元:光发射和接收的传感器仅由没有旋转机构的光学部件组成,因此非常轻且紧凑,并且不需要定期维护。

丰富的产品阵容:产品阵容应用广泛,包括如独特的便携类型,手动/自动平台类型,大型基板类型,以及支持大气/真空环境的内置类型。

金山科研平台现货促销用途

透明或半透明薄膜(氧化膜,氮化膜,抗蚀剂,ITO等)的膜厚,折射率,消光系数的测量

金山科研平台现货促销规格
波长范围530 ~ 750nm、380 ~ 760nm(选择)
点径Φ1mm、Φ0.3mm(选择)
入射角度70o固定
膜厚再现性1σ = 0.1nm
膜厚范围1nm ~ 2μm
测量时间受光:20ms ~ 3000ms 演算:300ms
平台固定类型(Φ150mm以下、可拆卸)
控制PC笔记本类型(带操作/分析软件)
机器构成测量本体(带固定台)、控制器BOX、光源单元操作PC(笔记本型)、使用说明书(CD)

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