NITTOSEIKO日东精工 低电阻率自动测量系统 紧凑型测绘系统 MCP-S330 原装进口

2024-11-07

金山科研平台现货促销 特征

导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。

能够绘制最大300mm见方的样品并连续测量多个样品。

可连接到 Loresta GX 以测量 10-4 至 10+7Ω 范围

全自动测量、计算、数据处理和3D图形输出




导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。

随着显示器件(液晶和有机EL)要求具有更快的响应速度和更高的清晰度,电极基板的均匀性变得更加重要。

表面电阻率取决于材料。当材料均匀时,薄膜越厚,表面电阻率越低。

在薄膜领域,薄膜厚度变化通过表面电阻率绘图来评估。


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