ULVAC爱发科 分光椭偏仪 UNECS-3000A 薄膜膜厚/折射率测量用

2024-11-06

金山科研平台现货促销

ULVAC爱发科 分光椭偏仪 UNECS-3000A 薄膜膜厚/折射率测量用

ULVAC爱发科 分光椭偏仪 UNECS-3000A 薄膜膜厚/折射率测量用

Automatic Stage Type with Mapping Function

UNECS系列是可以高速、高精度测量薄膜膜厚和折射率的分光椭偏仪。采用独特的测量方式,实现了高速测量和机体的小型化。我们的产品阵容包括独特的便携式,自动式和对应真空环境的设备内置式类型。UNECS-1500A/2000A/3000A通过自动R-θstage和自动对焦功能,快速自动测量整个样品表面的膜厚,并通过彩色地图显示膜厚分布。金山科研平台现货促销特点

高速測定:独特的快照方法可实现高达20 ms的高速测量。

适用于可见光谱:波长范围可选标准类型(530nm至750nm)和可见光谱类型(380nm至760nm)。

紧凑型传感器单元:光发射和接收的传感器仅由没有旋转机构的光学部件组成,因此非常轻且紧凑,并且不需要定期维护。

丰富的产品阵容:产品阵容应用广泛,包括如独特的便携类型,手动/自动平台类型,大型基板类型,以及支持大气/真空环境的内置类型。

金山科研平台现货促销用途

透明或半透明薄膜(氧化膜,氮化膜,抗蚀剂,ITO等)的膜厚,折射率,消光系数的测量

金山科研平台现货促销规格
型号1500A2000A3000A
波长范围530~750nm、380~760nm(选择)
点径Φ1mm、Φ0.3mm(选择)
入射角度70o固定
膜厚再现性1σ = 0.1nm
膜厚范围1nm ~ 2μm
测量时间受光:20ms ~ 3000ms 演算:300ms
平台Φ150mm自动Φ200mm自动Φ300mm自动
自动测量200点200点2,000点
控制PC笔记本类型(带操作/分析软件)
机器构成测量本体、控制器、操作PC(笔记本型)、使用说明书(CD)

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